成立年限
研發投入
技術專利
技術人員
服務客戶
設備可與不同類型的ATE測試機組合，實現完成晶圓WAT/CP測試，該設備，能為客戶提供一個低成本且高產量的晶圓測試解決方案，滿足（晶圓廠、封測廠、測試廠）等不同客戶的測試需求。
設備專業應對12"、8"、6"的晶圓Si/GaN/SiC等各類器件的先進芯片性能測試，具有目前行業較高的溫寬區和測試精度,可匹配多種測試應用環境.
一款功能進階級探針臺，能實現 1μm 以上的電極 Pad 測試，工效學設計簡單易操作，靈活的 UPStart? 模塊化設計， 客戶可通過較低的成本升級更多的測試功能
各種半導體材料高精度測量的軟件集成系統
TFT-LCD面板亮點的修復，OLED面板亮點的修復
TFT-LCD和OLED Array Panel線路開路和短路的修復，Mask的缺陷修復
OLED/LCD 20寸、55寸、70寸以內面板的亮點及異常修復
提供4種不同精度的亞微米級探針座供客戶選擇(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在針座上面連接探針和信號線纜的機械裝置，用于固定探針和引出信號。探針夾具會隨著針座的 X-Y-Z旋鈕調節而 在X-Y-Z方向線性運動。
多種GGB探針選擇，T-4系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。ST 系列硬針探針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。
提供4種不同精度的亞微米級探針座供客戶選擇(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在針座上面連接探針和信號線纜的機械裝置，用于固定探針和引出信號。探針夾具會隨著針座的 X-Y-Z旋鈕調節而 在X-Y-Z方向線性運動。
多種GGB探針選擇，T-4系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。ST 系列硬針探針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。
提供4種不同精度的亞微米級探針座供客戶選擇(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在針座上面連接探針和信號線纜的機械裝置，用于固定探針和引出信號。探針夾具會隨著針座的 X-Y-Z旋鈕調節而 在X-Y-Z方向線性運動。
多種GGB探針選擇，T-4系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。ST 系列硬針探針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。
提供4種不同精度的亞微米級探針座供客戶選擇(0.1um/0.7um/2 um/10um)
固定在針座上面連接探針和信號線纜的機械裝置，用于固定探針和引出信號。探針夾具會隨著針座的 X-Y-Z旋鈕調節而 在X-Y-Z方向線性運動。
多種GGB探針選擇，T-4系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路，電極，或者FIB(聚焦離子束) 制作的mini電極。ST 系列硬針探針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。
核心技術
探針臺解決方案
激光修復機解決方案
品質保障
售后服務
FAQ
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