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探針臺--SEMISHARE是先進的晶圓探針臺制造商，服務超1000家以上的國內客戶
應用于各種半導體材料高精度測量的軟件集成系統
激光修復機--超高的測試精度及超快修復速度
不同探針臺配件組合，實現更精密的測試測量要求。
我們，一直在探索如何從精密儀器向晶圓表面輸送更穩定的信號，實現更精確可靠的測量結果，助力客戶快速實現技術目標…
為客戶提供從產品咨詢、方案設計、生產交付、產品培訓、售后跟蹤等服務，有效保障客戶的時間和投入達到更大的效用
我們一直在探索如何從精密儀器向晶圓表面輸送更穩定的信號，實現更精確可靠的測量結果，在探針臺領域，我們不僅提供探針臺，更提供先進的晶圓探針測試技術...
對液晶屏的TEG電路進行分析，測試電學參數，實現全自動化的一款測試應用設備；
設備可與不同類型的ATE測試機組合，實現完成晶圓WAT/CP測試，該設備，能為客戶提供一個低成本且高產量的晶圓測試解決方案，滿足（晶圓廠、封測廠、測試廠）等不同客戶的測試需求。
設備專業應對12"、8"、6"的晶圓Si/GaN/SiC等各類器件的先進芯片性能測試，具有目前行業較高的溫寬區和測試精度,可匹配多種測試應用環境.
C12探針臺可在高低溫非真空環境下的實現特定溫度測試
CG高低溫真空探針臺是SEMISHARE多年來技術積累的創新成果，同時SEMISHARE也是國內最早自主研發推出的高低溫真空探針臺，CG高低溫真空探針臺能夠實現樣品在真空高低溫環境下的精確電性、光強、波長、磁場等測試，其在超低溫，超高真空，自動控制，激光模擬方面發揮著獨有的技術優勢。
FA8失效分析探針臺是專為失效分析實驗室設計的一款量測設備，具光學特性、激光特性，設備結構穩定，系統性能優異，人體工程學設計，操作便捷，支持多功能升級，產品功能豐富齊全。
H12探針臺具有優異的機械性能和的測試功能，其卡盤移動技術，可滿足客戶對整片晶圓高效測試的需求，H系列6" 8" 12"探針臺非常適合研發類實驗室的一次性預算購置。
一款功能進階級探針臺，能實現 1μm 以上的電極 Pad 測試，工效學設計簡單易操作，靈活的 UPStart? 模塊化設計， 客戶可通過較低的成本升級更多的測試功能
廣泛應用于DC直流/（IV、CV、I-t、V-t），DC直流/低電流（100fA級）測試 ，1/f噪聲測試 ，器件表征測試，RF射頻等
