<noframes id="bugla"><del id="bugla"></del></noframes>
    
    
      1. 我們的網站使用由我們和第三方提供的 cookies。部分cookies是網站運營所必需的,而其他 cookies您可以隨時調整,特別是那些有助于我們了解網站性能、為您提供社交媒體功能、通過相關內容為您帶來更好的體驗和廣告宣傳的cookies...。

        我接受
        聯系我們
        郵件留言
        中文
      2. 全球-簡體中文
      3. Global-English
      4. 測試技術

        概述

        技術

        加速創新,不輟挑戰

        更具挑戰的芯片時代,更需要高性能的測試測量設備

        科技的日新月異,諸如5G通信,航空航天、無人駕駛、人工智能、大數據等核心領域的技術邊界不斷在被創新突破,與此同時對芯片性能要求也越來越高,使得晶圓級測試也隨之變得更復雜,從實驗室到晶圓廠在芯片的研發生產的過程中,如何加快產品上市的速度則變得至關重要,這就需要一套專業的測量系統來快速精準地完成晶圓測試工作。

        實現技術轉化的產品應用

        Product application for technology transformation

        SEMISHARE科技作為在全球半導體測設備領域的先進探針臺制造商,基于對晶圓探針測試技術的長期研究,我們與客戶共同應對在半導體制程中的關鍵技術挑戰,協同客戶在芯片開發和量產中作出技術優化與改進。探針臺領域,我們致力如何從精密儀器向晶圓表面輸送更穩定的信號,實現更加精確的測量結果,至今我們已將多項技術應用到產品之中,我們不僅提供探針臺,更提供先進的晶圓測試技術解決方案;

        • 全自動探針臺測量技術

          ( Auto-High Performance?技術)

          Auto-High Performance?技術提供一種高穩定的全自動晶圓探針臺及全自動晶圓測試設備。通過全自動晶圓探針臺多重加固的穩定結構,解決了晶圓測試時設備容易晃動并影響測試精度的問題,保證了晶圓測試過程中探針臺的運動穩定性和精密度。

          了解更多
        • 半自動探針臺測量技術

          3ZOOM測試技術

          ThreeInone?技術在于提供一種高穩定性能的探針臺及半自動晶圓測試設備。通過探針臺低重心的穩定結構,解決了晶圓測試中設備容易晃動并影響測試精度的問題,最終保證探針臺高穩定性能的工作,使得測試達到高精準度。

          了解更多
        • 真空高低溫測試技術

          (SpecialConditions?)

          提供一種在真空和高低溫的測試環境,當晶圓加熱至300℃,400℃,500℃甚至更高溫度時,氧化現象會越來越明顯,并且溫度越高氧化越嚴重。過度氧化會導致晶圓電性誤差,物理和機械形變。避免這些需要把真空腔內的氧氣在測試前用泵抽走,并且保持整個測試過程泵的運轉。

          了解更多
        • 氣浮式卡盤移動技術

          (Chuck Air?bearing?move ?)

          氣控式移動平臺(Chuck Air?bearing?move ?)具備快速移動卡盤功能,滿足高效手動測試需要。通過對應的氣浮開關,提供3種快速移動方式:單手控制X/Y方向快速移動,雙手控制樣品臺全平面快速移動。

          了解更多
        ? 2020 深圳市森美協爾科技有限公司 All Rights Reserved.粵ICP備19119103號
        彩神iv首页