我們將客戶創新性的理念轉化為現實成果，實現精準可靠的測試與測量分析，幫助其精準測量和分析判斷晶圓器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特性測試、LD/LED/PD的光強/波長測試，射頻特性器件失效分析，芯片內部線路/電極/PAD測試等技術解決方案。

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  集成電路方向

  Integrated circuit (IC) direction

  ● 晶圓電性測試

  ● 芯片線路修改

  ● 失效分析

  ● 芯片反向拍照
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  印刷線路版方向

  PCB direction

  ● PCB印刷線路板電性測試
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  掩膜版方向

  Maskdirection

  ● 掩膜版缺陷修復
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  LED方向

  LED direction

  ● 電池片光電效率測試

  ● EL測試

  ● 電性測試
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  光伏太陽能方向

  Photovoltaic (PV) solar direction

  ● 太陽能電池片劃片/劃線
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  平面顯示方向

  FPD direction

  ● LCD，OLED亮點/線路修復

  ● 面板探針測試
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  觸摸屏方向

  Touch Panel direction

  ● 觸摸屏ITO短路激光修復

  ● 激光刻蝕

我們幫助客戶更好的優化其測試流程，以之不斷贏得客戶信任，通過多年與合作伙伴的經驗累積，我們已將諸多的技術經驗轉化為實際的市場成功案例，并逐步形成了更加專業的測試測量解決方案。

• 探針臺解決方案

  > IV/CV 直流測試
  > RF射頻測試
  > 晶圓高低溫測試
  > 大功率器件測試
  > 真空高低溫測試

• 激光修復機解決方案

  > TFT-LCD 液晶面板亮點修復方案
  > OLED面板亮點修復方案
  > LCD面板陣列修復方案
  > OLED面板陣列修復方案